一种圆片级发光二极管芯片检测方法、检测装置及其透明探针卡。

此检测方法包括：提供一透明探针卡，且透明探针卡覆盖于圆片的上方，并以透明探针卡的接点电性连接LED芯片的测试垫，以对LED芯片进行一点亮测试。当LED芯片发光后，对LED芯片的光信号进行一成像处理，以形成一影像于一感测元件上。撷取影像，并将影像的信号转换成对应于各个LED芯片的一光场信息及一位置信息。根据LED芯片的光场信息，得到LED芯片的光谱及发光强度。根据LED芯片的光谱及发光强度，以对LED芯片进行分类。本发明还揭露一种应用上述检测方法的圆片级LED发光二极管芯片检测装置及透明探针卡。

上述的检测方法、检测装置及其透明探针卡，具有提高检测速度及快速分类的优点。